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日本日置(HIOKI)2014年11月電子報

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日本日置(HIOKI)2014年11月電子報

新品上線

LCR測試儀IM3536


LCR測試儀IM3536具備4Hz~8MHz寬頻率范圍,實現高速、高精度測量。滿足電子元件的研發和生產等多種領域的要求。
1.測量頻率4Hz~8MHz,精度保證范圍1mΩ和測量范圍擴大
2.和以往產品相比,實現高速、高精度測量
3.連續測量功能,1臺即可完成不同條件的檢查
4.具備提高檢查品質的接觸檢查功能

 

電池阻抗測試儀BT4560

電池阻抗測試儀BT4560提出顛覆以往鋰電池評估方法的新方案,和以往的方式基本相同,但是采用了能夠評估性能和品質的測量方式。使用BT4560的方式進行測量的話,測量時間可以縮短至10秒※。因此大幅提高了測量效率。※測量頻率1Hz時
特點:
1.通過低頻AC-IR測量,縮短了測量時間并提高了測量效率
2.低頻AC-IR測量讓價格更實惠
3.高精度、穩定測量
<超低阻測量>
精度:0.4%rdg.±8dgt※ 最小分辨率:0.1μΩ
※測量速度[SLOW]下純電阻測量時

<高精度DC電壓測量>
精度:0.0035%rdg.±5dgt 最小分辨率:10μV

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